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 今明視覺科技有限公司 JM VISION TECHNOLOGIES CO., LTD 展16
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本次展出
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○ AOI設備
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● 光學系統
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○ 取像系統
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○ 影像分析
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○ 運動控制
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○ 其他
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展出品牌
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Mu3 光學計量檢測軟件
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展品資料
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在當今世界，鏡面對3D測量技術的挑戰。 基於相位偏轉測量法，Mu3的鏡面檢測功能可以達到奈米精度。 Mu3技術可實現對玻璃，金屬，晶圓和鏡面狀表面的自動化檢測。
[規格]
視野：100m x 80mm（可定制尺寸）
靈敏度：50nm
測量速度：2秒
準確性→曲率：±0.01折光度
測量原理：相位測量偏轉
操作系統：Windows 7 / Windows 8 / Window 10 (32/64位元)
界面：可提供dll用於軟件開發
為什麼要用Mu3？
快速，全視野，非接觸式測量方法
對振動非敏感，可輕鬆集成到生產鏈靈敏度低至奈米範圍內
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展品圖
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基本資料
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地址
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台北市大安區敦化南路二段57號4樓
台中市南區忠明南路787號37樓C07室
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業務聯絡人
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電子信箱
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Chris 陳泓銘
Rachel 楊中瑞
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Chris.tw@jm-vistec.com ；
Rachel.yang@jm-vistec.com
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電話
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傳真
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04-22620570
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04-22620580
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公司介紹
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公司性質
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AOI相關元件/模組/平台供應商
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公司簡介
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JM Vistec System成立於2004年，並於當時即與擁有領先地位的研發機構合作，如SIMTECH，南洋理工大學…等。如今，我們的能力在亞太地區中已飆升至最高的水準。
作為全球領先的機器視覺專家，JM Vistec System對於身為真正的新加坡品牌感到自豪。民族特性反映出我們的核心價值;，極具競爭力的品質，積極的精神與服務保證。
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AOI主力產品
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- 3D檢測系統
- Deflectometer 檢測系統
- Mu3 光學計量檢測軟件
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