今明視覺科技有限公司 JM VISION TECHNOLOGIES CO., LTD  展16

本次展出

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○   其他

展出品牌

 

Mu3 光學計量檢測軟件

展品資料

 

在當今世界,鏡面對3D測量技術的挑戰。 基於相位偏轉測量法,Mu3的鏡面檢測功能可以達到奈米精度。 Mu3技術可實現對玻璃,金屬,晶圓和鏡面狀表面的自動化檢測。

[規格]
視野:100m x 80mm(可定制尺寸)
靈敏度:50nm
測量速度:2秒
準確性→曲率:±0.01折光度
測量原理:相位測量偏轉
操作系統:Windows 7 / Windows 8 / Window 10 (32/64位元)
界面:可提供dll用於軟件開發
 
為什麼要用Mu3?
快速,全視野,非接觸式測量方法
對振動非敏感,可輕鬆集成到生產鏈靈敏度低至奈米範圍內

展品圖

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AOI相關元件/模組/平台供應商

公司簡介

 

JM Vistec System成立於2004年,並於當時即與擁有領先地位的研發機構合作,如SIMTECH,南洋理工大學…等。如今,我們的能力在亞太地區中已飆升至最高的水準。

作為全球領先的機器視覺專家,JM Vistec System對於身為真正的新加坡品牌感到自豪。民族特性反映出我們的核心價值;,極具競爭力的品質,積極的精神與服務保證。

AOI主力產品

 

  1. 3D檢測系統
  2. Deflectometer 檢測系統
  3. Mu3 光學計量檢測軟件